Compañía norteamericana con sede en Braintree, MA especializada en la fabricación de equipos de Alta Tecnología para caracterización microestructural; tales como Difractómetros de Rayos X ( DRX ) -- monocristal/policristal y para difracción de polvos –, Microscopios de Fuerza Atómica ( AFM ) para análisis de nanoidentación, oclusiones, fallas de formado/vaciado y Microscopios Electrónicos de Barrido, que se pueden acoplar a detectores de Fluorescencia por Energía Dispersiva ( SEM-EDX ) . Produce también analizadores elementales de C & S tanto de sobremesa como de piso para diversas aplicaciones.


El ADXJ-500 es un instrumento analítico que utiliza Difracción de Rayos X ( XRD ) para analizar la estructura cristalina de los materiales.
 La unidad de alto voltaje del ADXJ-500 se controla por microprocesador, lo que controla el voltaje y los cambios de corriente del tubo de Rayos X – de 2 kW y de cobertura 10-60 kV que permite focalización de 1 X 10 mm2 ( con gran estabilidad del generador de RX mejor a 0.01% ) -- y del interruptor del obturador electromagnético. El instrumento tiene la función de diagnóstico automático de fallas.Este sistema provee máxima protección para el usuario.
 Las ventanas están hechas de vidrio plomado; la protección de radiación de Rayos X controlada por microprocesador es automática. La dosis de dispersión es menor a 1μSv/h .Integra un sistema circulador de agua para enfriamiento del tubo de Rayos X.



El Difractómetro de Rayos X ADX-2500 ha sido diseñado especialmente para realizar mediciones de microestructura, pruebas e investigaciones profundas. Los diferentes accesorios, el control y el software de cálculo permiten construir un sistema según requerimientos específicos.
 Integra tubo de Rayos X de gran potencia ( 2 Watts ) de cobertura 10-60 KeV y focalización de 1 ó 0.4 X 10 mm2 . Estabilidad de potencia del generador de RX es mejor a 0.01%. Integra goniómetro de diseño vertical de 185 mm de semidiámetro de círculo de difracción, con velocidad de barrido de ángulo de 120⁰ /min. Puede integrar un detector contador proporcional o semiconductor. Este equipo permite el análisis estructural de cristal sencillo y muestras policristalinas y amorfas. Incluyendo el análisis de fase cualitativo y cuantitativo (RIR, calibración por estándar interno y externo, criterios de adición ) , indexación de patrón, deteminación unicelda y refinado, tamaño del cristalito y determinación de deformación, ajuste de perfil , etc.



El analizador elemental AAS8820 de Carbono y Azufre puede rápidamente detectar el contenido de tanto C como de S en metales – aceros, hierro colado, cobre, niquel, titanio y aleaciones – materias primas – oxidos metálicos, carbonatos, yeso, etc --, carbón, coques, aceites, cenizas, catalizadores, hules, hojas, brea, vidrio, desechos, etc.
 El sistema utiliza un detector Infrarrojo para obtener resultados altamente repetitivos y estables, libres de interferencia de otros grupos de compuestos ( Nox, H2S, etc) por el diseño específico del detector.
 La celda de paso de gas de alta precisión asegura la estabilidad del flujo en el sistema de entrada de gas ( tales como válvulas electromagnéticas, uniones, asientos de cilindros, etc ) para detección automática de fugas. Integra corrección dual std para sólidos y gas.
 Límites de detección : Carbono: 0.00001-99.99%  Azufre: 0.00001-99.99% con precisión mejor al 0.5% en C y mejor al 1.0% en S.



La técnica de AFM mide la superficie de los materiales usando una punta especial en el extremo de un cantilever. El brazo del mismo se deforma – cambia su rango de curvatura – en el orden de los nanómetros debido a las fuerzas intermoleculares que ocurren con la muestra. Existen varios métodos para medir esta deflexión.
 El AFM AA3000 es el modelo más popular de Microscopio de escaneo de probeta. Es muy útil cuando se requiere de información rápida mediante análisis sencillo. El detector se integra en la base del sistema, eliminando la posibilidad de dañarlo mediante el manejo.
 El AA3000 puede desarrollar modo de contacto, modo de golpeteo, microscopia de fuerza lateral LFM y microscopía de escaneo de túnel STM. La unidad estándar permite ver áreas de muestras de hasta 100 micrones2. Se pueden proveer medición de áreas mayores.
 Resolución : AFM : 0.26nm lateral, 0.1nm vertical para STM.
 El sistema puede manejar tareas complicadas multi-funciones eficientemente., gracias a su procesador de señal digital. El modo de SPM permite medir en tiempo real.



Microscopio electrónico de barrido Angstrom-SEM de alto desempeño, bajo costo de inversión, gran resolución y exactitud. Permite caracterización rápida e imagenología de estructuras finas, permitiendo observaciones de especímenes de hasta 150 mm en diámetro para aplicaciones industriales. Provee una altísima resolución de 3.0nm a 30kV, el Microscopio Angstrom-SEM permite una claridad asombrosa de las estructuras más finas. Además de la producción de imágenes de rutina con una resolución mayor a cientos de veces, comparado con un microscopio óptico, y con una profundidad focal de varias decenas de veces mayor que en microscopía óptica tradicional, el SEM permite mediciones detalladas, incluyendo mediciones 3D de imágenes estéreo.